电子设备冷热冲击检测报告
更新时间:2023-10-10 23:59:00
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详细介绍
电子设备在使用过程中经常会遭受到温度的变化,而这种温度的变化往往会引起电子元件收缩和膨胀,从而导致电子设备出现桥接、开路等故障。为了保证电子设备在各种温度变化下依然能够正常运行,必须对其进行冷热冲击测试。
冷热冲击测试,是指将电子设备放入恒温箱内,在高温和低温环境之间进行反复转移,模拟现实环境中的温度变化情况。测试过程中,需要引入一些冷热冲击试件,来模拟测试样品在实际应用中可能遇到的各种环境后果。
在冷热冲击测试中,需要考虑到很多因素,如温度波动率、温度变化率、温度梯度、测试时间等。只有考虑到这些因素,才能对测试样品进行科学全面地评估。
温度波动率 | 设定10℃/min的温升速率,测试-30℃至70℃的变化情况 | 样品在温度变化下没有观察到任何异常迹象,符合测试要求 |
温度变化率 | 设定20℃/min的温度上升速率,测试-20℃至85℃的变化情况 | 样品在温度变化下表现平稳,符合测试要求 |
温度梯度 | 测试在-40℃和85℃之间,30min内的温度波动情况 | 样品的表现符合测试要求,未出现任何异常迹象 |
测试时间 | 连续测试100次,每次测试10min | 样品经受100次的测试经非常牢固,没有发生故障 |
冷热冲击测试在电子设备的开发、制造和维护中具有非常重要的作用。只有经过全面科学的测试,才能保证电子设备的性能和稳定性。在电子设备的生产、维护和测试中,冷热冲击测试都是不可或缺的一项重要环节。