反光片检测

检测项目

厚度偏差、薄膜表面质量检测、膜卷外观检测、宽度偏差、接头数目、每段长度、防腐蚀性能、气相缓蚀能力、接触腐蚀能力、与铜的相容性、交变湿热试验等。  

检测范围

镜面反灯光片、晶格反灯光片、纳米反灯光片、自行车反灯光片、塑料反灯光片。  

检测标准

 GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法  

GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法  

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法  

GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

 GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染  

GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法  

HG/T 4360-2012 电影 黑白光学声音底片和高反差正片 感光度测定方法  

GB/T 17169-1997 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法